智能直讀式鹽密度測(cè)試儀用于電力系統(tǒng)防污閃檢測(cè)，是測(cè)量絕緣子表面等值附鹽密度（以下簡(jiǎn)稱“鹽密”）的測(cè)量儀器，同時(shí)還可以測(cè)量溶液的電導(dǎo)率和溫度。整機(jī)以其測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、使用方便等特點(diǎn)廣泛地應(yīng)用于電力、教學(xué)、科研及其它相關(guān)行業(yè)。

污穢等級(jí)的劃分和污穢等級(jí)分布圖的繪制是防污閃工作的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確的污穢等級(jí)分布圖是選擇輸、變電設(shè)備電瓷外絕緣爬距的依據(jù)。絕緣子表面等值附鹽密度值是判斷電瓷外絕緣污穢狀況嚴(yán)重程度的定量數(shù)據(jù)，是劃分污穢等級(jí)和繪制污區(qū)圖的重要依據(jù)之一。因此鹽密測(cè)量工作對(duì)電力系統(tǒng)安全運(yùn)行有著重要的意義。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T16434–1996《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污穢分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

GB/T16434-200X《污穢條件下高壓絕緣子的選擇和尺寸確定第1部分：定義、信息和一般原則》

Q/GDW152-2006《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污區(qū)分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

相關(guān)術(shù)語：

1、參照盤形懸式絕緣子reference cap and pin insulator

XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度。

2、爬電距離creepage distance

在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的短距離。

注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn)為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。

3、統(tǒng)一爬電比距unified specific creepage distance（USCD）

絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的高運(yùn)行電壓（對(duì)于交流系統(tǒng)，為相電壓）之比，mm/kV。

4、附鹽密度salt deposit density（SDD）

人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上氯化鈉總量除以表面積，mg/cm²。

5、等值附鹽密度equivalent salt deposit density（ESDD）

絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm²。

6、不溶物密度（簡(jiǎn)稱灰密）non soluble deposit density（NSDD）

絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm²。

7、現(xiàn)場(chǎng)等值鹽度site equivalent salinity（SES）

根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)時(shí)的鹽度。用該鹽度試驗(yàn)，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場(chǎng)自然污穢條件下的泄露電流基本相同。

8、現(xiàn)場(chǎng)污穢度site pollution severity（SPS）

在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間段內(nèi)測(cè)量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的大值。

9、現(xiàn)場(chǎng)污穢度等級(jí)site pollution severity class

將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級(jí)。

10、帶電系數(shù)K₁ energy coefficient K₁

同形式絕緣子帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值之比，K₁一般為1.1~1.5。

二、功能特點(diǎn)

1)具有量程自動(dòng)切換功能，測(cè)量速度快（2.5s/次）。

2)測(cè)量范圍大，鹽密范圍0.0001mg/cm²～9.9999mg/cm²。

3)中英文界面可自主切換。

4)采用480*272彩色觸摸液晶屏幕。

5)可直接顯示并打印鹽密度、電導(dǎo)率、溫度、污穢等級(jí)、統(tǒng)一爬電比距。

6)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，直接顯示20℃時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)率和等值附鹽（ESDD）。

7)具有自動(dòng)祛除原溶液含鹽量的功能，降低了對(duì)清洗液的要求。

8)自動(dòng)將不帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）轉(zhuǎn)換為帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）。

9)可存儲(chǔ)10萬組記錄，并可將記錄導(dǎo)出至U盤或通過打印機(jī)打印。

10)可查閱、刪除、導(dǎo)出單條記錄，也可刪除所有記錄。

11)內(nèi)置大容量充電鋰電池（2600mAh），適合野外現(xiàn)場(chǎng)使用。

三、產(chǎn)品參數(shù)

3.1測(cè)量范圍：

鹽密：0.0001mg/cm²～9.9999mg/cm²（按X-4.5型絕緣子為準(zhǔn)）

測(cè)量溫度：0℃～100℃

測(cè)量電導(dǎo)率：0～200000μs/cm

3.2基本誤差：

測(cè)量鹽密：分辨率0.0001 mg/cm²

滿量程精度：±2%

測(cè)量溫度：分辨率0.1℃，精度±0.5℃

測(cè)量電導(dǎo)率：分辨率0.01μs/cm

3.3環(huán)境溫度：0℃～60℃。

3.4環(huán)境濕度：<90%RH。

3.5體積與重量

整機(jī)機(jī)箱尺寸：長355mm*寬260mm*高130mm。

整機(jī)重量：約2.5Kg。

四、使用說明

4.1主機(jī)外觀與功能

4.2測(cè)試步驟

4.2.1配置溶劑

溶劑選擇：建議使用去離子水或蒸餾水。也可以使用質(zhì)量合格的飲用純凈水，但以電導(dǎo)率小于10us/cm的水為宜。如果使用飲用純凈水，則需要修改“參數(shù)”--“基準(zhǔn)值”，將原始溶液的含鹽量作為測(cè)量數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)值。（詳細(xì)操作見功能說明--參數(shù)）

溶劑用量：標(biāo)準(zhǔn)普通型絕緣子每片用水量為300ml。但是當(dāng)被測(cè)絕緣子的表面積與普通絕緣子不同時(shí)，可參照下表，根據(jù)絕緣子表面積大小按比例適當(dāng)增減用水量。

絕緣子表面積與鹽密測(cè)量用水量關(guān)系表

請(qǐng)使用燒杯等玻璃容器盛裝溶劑，嚴(yán)禁使用金屬容器。金屬容器會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)量結(jié)果。

4.2.2擦拭取樣

絕緣子取樣選擇：普通懸式絕緣子串選取上數(shù)第2片、中間1片、下數(shù)第2片。將三片測(cè)量的結(jié)果求平均值作為測(cè)量結(jié)果。

擦拭方法：?jiǎn)问执魃弦淮涡匀槟z手套，取一片紗巾放在溶劑（蒸餾水）中浸濕。用濕紗巾將單片絕緣子的上下表面擦拭干凈，將污穢物連同紗巾放入水中攪拌溶解。在擦拭絕緣子表面時(shí)不要流失水分。

補(bǔ)充：取樣污穢物的成分分為兩類，一類為可溶解物質(zhì)稱為鹽，另一類為非可溶物質(zhì)稱為灰。鹽溶解于水后成為導(dǎo)電離子，儀器通過離子濃度來衡量ESDD?；以谒袨閼抑锖统两滴?，沒有導(dǎo)電性，不影響ESDD測(cè)量結(jié)果。測(cè)量鹽密度ESDD請(qǐng)使用本儀器，測(cè)量灰密度NSDD請(qǐng)使用絕緣子灰密度測(cè)試儀（成套裝置）。

4.2.3測(cè)試

根據(jù)實(shí)際溶液體積和絕緣子表面積修改相關(guān)參數(shù)。將電極頭浸入被測(cè)溶液中，即可讀取鹽密度ESDD、溶液電導(dǎo)率、溶液溫度、污穢等級(jí)、統(tǒng)一爬電比距等結(jié)果。

補(bǔ)充：標(biāo)配電極常數(shù)K=1.0的電極，用于絕緣子鹽密度ESDD的測(cè)量。當(dāng)使用鹽密儀用作其它用途，如測(cè)量工業(yè)廢水的電導(dǎo)率，且測(cè)量范圍在10000～100000us/cm，應(yīng)換用電極常數(shù)K=10的鉑黑電極。如測(cè)量特殊化學(xué)溶劑的電導(dǎo)率，其范圍在1～50us/cm，且需要高測(cè)量精度時(shí)應(yīng)換用電極常數(shù)K=0.1的鉑電極。K=10和K=0.1的電極不是標(biāo)配電極，如需要請(qǐng)?jiān)谫徶脮r(shí)配置。